常用的S参数去嵌方法及优化

本文介绍了一种简单准确的S参数去嵌入校准方法。该方法结合阻抗校准、Skew移除算法等技术，只需要增加一个简单地校准夹具就能完成复杂结构的去嵌。文章借助芯和半导体的SnpExpert，可以非常容易的针对2x Thru、1x Open、1x Short各类场景实现测量S参数的去嵌处理，以满足不同应用的S参数处理需求。