测量

就产品质量和生产环境的清洁度而言，半导体行业是一个要求很高的行业。金属污染对芯片有害，所以应避免裸晶圆片上有金属污染。本文的研究目的是交流解决裸硅圆片上金属污染问题的经验，介绍如何使用互补性测量方法检测裸硅圆片上的少量金属污染物并找出问题根源，解释从多个不同的检测方法中选择适合方法的难度，以及用寿命测量技术检测污染物对热处理的依赖性。

在放大器电路中，总会有一些常见误差困扰这我们，比如——

◎ 输入失调电压产生的输入误差，而且这个误差还会跟随温度的变化而变化……

◎ 输入偏置电路在源组件和反馈组件中传导产生的误差，这个误差在高阻抗电路中是一个关键问题……

◎输入和输出范围有限而引起的误差……

作者：株式会社村田制作所　组件事业总部　S.K

1.关于电容器的发热

在混频过程中，混频器在其输出端上产生的并不只是所期望的信号。位于输入和 LO 频率之整数倍上的其他无用信号也会出现在混频器的所有端口上。这些寄生信号接着又相互混频并离开混频器的输出端口而进入信号链路的其余部分。此类不希望有的输出信号被称为 “杂散脉冲”。假如这些杂散脉冲的功率足够高，那就会在射频设计中引发很多问题，例如：发送器中相邻通道的污染、接收器中的灵敏度损失、或期望信号自身的失真。

众所周知，LED对驱动电源的要求非常高，除了要求驱动电源必须有高可靠性、高功率因数和高效率以外，还要求驱动电源要在安全保护上有周密的设计，除了能支持浪涌保护，还要支持过热、防水、防潮、EMC/EMI等等，要实现这些功能，电源品质的测试至关重要，这里泰克行业渠道开发经理王跃伟分享了泰克在LED驱动电源测试方面的一些列方案，旨在帮助工程师设计出高可靠高性能高效率LED驱动电源。