TOD去嵌及快速Dk/Df提取

本文介绍了一种TOD去嵌及快速Dk/Df提取的方法。借助芯和半导体的S参数处理工具，为设计人员提供了一种简单的方法，来实现从测量数据中去嵌夹具、取DUT特性。这对于对称和非对称夹具结构的测试、测量和Dk/Df提取至关重要。