<p><span>2020年岁末，安立联合泰克、GRL参与相关协会的专家及专业的测试工程师，在线上和大家一起共话PCIe/USB/DP/TBT的演进与测试，同时开启了2021高速接口测试信息分享与交流的序幕。</span></p>
<p><span>如今，数据传输需求的不断提升，加快了数据接口换代进程，应用于服务器/存储的PCIe接口正从PCIe3.0向PCIe4.0和5.0的过渡，而同步于高速互连的PCIe6.0的规范也在制定中；同时应用于消费电子的USB/DP/TBT等接口也在不断的进化和融合。</span></p>
<p><img alt="安立、泰克、GRL三方联合，测试专家同台演绎高速接口演进与测试大戏" data-entity-type="file" data-entity-uuid="80a1d947-5a02-4d99-ba8c-98adb10546fc" src="http://new.eetrend.com/files/2020-12/wen_zhang_/100060186-117465-weixin…; /></p>
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<p><span>如何面对这些接口的演进以及验证方面的挑战？12月22号，安立、泰克和GRL三家技术专家联手，与业内工程师共话 PCIe/USB/DP/TBT的演进与测试。本次会议由安立公司业务拓展经理赵雁飞主持，泰克</span><span>PCI-SIG</span><span>协会专家Da</span><span>vid</span><span>更新了P</span><span>CI</span><span>e发展的最新信息以及包括S</span><span>NDR</span><span>等的一些测试要点；G</span><span>RL</span><span>产品方案总监陈昀介绍了U</span><span>SB/DP/TBT</span><span>的融合演进以及最新认证测试的要求和流程；泰克中国区的资深工程师曹福享结合泰克的高性能示波器，分享了P</span><span>CI</span><span>e</span><span>5.0</span><span>发端的测试区别、测试要点以及</span><span>USB/DP/TBT</span><span>发端的测试方案；安立应用工程师范铎结合自身在测试方面的丰富经验，重点介绍了P</span><span>CI</span><span>e的收端测试要求以及U</span><span>SB/TBT</span><span>和D</span><span>P</span><span>的测试方案。</span></p>
<p><span>会议持续了近两个小时的时间，100多位专业人士参与了本次的会议并积极提问交流。为了感谢各位的参与，</span><span>A</span><span>n</span><span>ritsu</span><span>公司会后提供了参与问卷调查的抽奖奖品，同时本次演讲的视频会放到三家的微信公众号上供大家会后观看。</span></p>
<p><span>自合作以来，安立（误码仪/矢量网络分析仪供应商）,</span><span><span> </span></span><span>泰克（实时示波器供应商）和G</span><span>RL</span><span>（校准和测试软件供应商）三方各自发挥自己的优势，在高速接口市场上取得了积极的进展。后续三方会继续努力，在高速接口测试市场为大家提供更为高效和及时的测试方案和测试服务。</span></p>
<p><span>关于泰克科技</span></p>
<p><span>泰克公司总部位于美国俄勒冈州毕佛顿市，致力提供创新、精确、操作简便的测试、测量和监测解决方案，解决各种问题，释放洞察力，推动创新能力。70多年来，泰克一直走在数字时代前沿。欢迎加入我们的创新之旅，敬请登录：</span><span>tek</span><span>.com.cn</span></p>