兼容IEEE P370 S参数测量结果的去嵌和质量检查方法，适用于带宽高达50GHz的场合

本应用笔记介绍了一种极具竞争力的、兼容 IEEE P370 的 S 参数去嵌和质量检查方法，它适 用于带宽高达 50Ghz 的 S 参数测量值。这为 SI 工程师提供了一种快速简便的 S 参数后处理 和评估手段。